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GJB 548C-2025中温度循环试验-半导体热冲击试验箱 型号:JAY-BD300L
控制系统通过PID模拟量控制方式完成对箱体内测试槽的温度控制。2.2、通过系统设定不同温度进行测试,伺服电机驱动吊篮于高低温槽中进行产品测试,在不同阶段的温度范围。 2.5、箱体结构部份:外箱采用A3#喷粉…
温度
进行
冲击
控制
部份
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9天前
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