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多晶硅
广州增芯申请半导体检测专利,能避免绝缘层影响对共享接触孔工艺窗口进行高精度检测
金融界2025年1月22日消息,国家知识产权局信息显示,广州增芯科技有限公司申请一项名为“半导体检测结构、半导体器件的制备方法及半导体器件”的专利,公开号CN119275213 A,申请日期为2024年9月…
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4天前
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