系统概述
绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统是一种信赖性试验设备。它通过在印刷电路板上施加固定的直流电压，并经过长时间的测试（1~1000小时可按需定制），观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值的变化状况，从而评估绝缘材料的劣化程度和离子迁移现象的影响。
主要参数指标
测量电压：100~1500V（可定制）
测试通道：128通道（可定制至高960通道）
测试时长：可连续运行1500小时
测试温度：85℃（可定制）
测试湿度：85%（可定制）
测量范围：10^5~10^15Ω
极化电压：100~1500V（可定制）
扫描周期：最快2分钟（128通道）
应用领域
助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料。
BGA、CSP等精细节距IC封装件。
有机半导体相关（有机EL）。
电容、连接器等其他电子元器件及材料。
各种绝缘材料的吸湿性特性评估。
设备图
